臺(tái)式掃描電鏡廣泛應(yīng)用于材料的微觀結(jié)構(gòu)分析，包括金屬、陶瓷、復(fù)合材料、納米材料等。通過(guò)高分辨率成像，科研人員可以觀察材料的表面形貌、晶界、缺陷等，從而評(píng)估材料的性能和可靠性。
使用臺(tái)式掃描電鏡需要先準(zhǔn)備好樣品，將其放到臺(tái)式掃描電鏡的樣品盤(pán)上，然后調(diào)整樣品位置和焦距。接下來(lái)啟動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡，對(duì)樣品進(jìn)行掃描和調(diào)整，同時(shí)調(diào)整電子束的參數(shù)，獲得高質(zhì)量的圖片和三維模型。
與傳統(tǒng)顯微鏡相比，臺(tái)式掃描電鏡具有更高的分辨率和更大的放大倍數(shù)，能夠觀察到更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和特性；而且不需要真空環(huán)境，比傳統(tǒng)掃描電鏡使用更方便，更易于維護(hù)和操作。
掃描電鏡是一款使用高亮度燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù)130000倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)，基于高亮度燈絲和新的聚焦系統(tǒng)的分辨率輕松達(dá)到14nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作，15秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3年更換燈絲等特點(diǎn)。
臺(tái)式掃描電鏡可觀察*大直徑為80 mm，厚度為50 mm的樣品。設(shè)備內(nèi)置光學(xué)相機(jī) (選配)，可輕松尋找目標(biāo)樣品。
臺(tái)式掃描電鏡從裝樣到獲取圖像僅需3分鐘左右，優(yōu)化了原來(lái)的形狀觀察、元素分析到報(bào)告制作的工作流程。
該設(shè)備在自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)襯比和自動(dòng)亮度控制等基礎(chǔ)方面，操作都很簡(jiǎn)單，無(wú)需進(jìn)行涂層或干燥等特殊的樣品處理準(zhǔn)備，高真空和低真空兩種操作模式以及三種加速電壓設(shè)置，適用于多種應(yīng)用領(lǐng)域，所有這些都可在預(yù)先設(shè)定的方案文件中進(jìn)行編程。
